内存时序和超频
内存时序参数与超频深入解析
内存时序参数简介
内存模块具有丰富的时序参数可以配置,主要参数如下:
CAS Latency(CL)
描述行缓冲存储器(ROW BUFFER)读取列地址的数据延迟时间(CAS COMMAND DELAY)。
计数单位是时钟周期。数值越小代表读写速度越快。
tRCD(RAS to CAS Delay)
RAS(ROW ADDRESS STROBE)指令至CAS(COLUMN ADDRESS STROBE)指令之间的延迟。
从行地址选择到列地址选择的时间间隔。
tRP(RAS Precharge Time)
RAS指令至下一个RAS指令之间的延迟时间。
释放当前行并选择下一个行地址的时间。
tRAS(Row Active Time)
行有效期,一个行被激活后的保持时间。
决定可以对同一行进行多次连续访问。
超频与内存时序调整
内存模块工作频率由系统总线频率决定,随CPU主频的提高,系统总线频率也会增加:
普通频率内,内存使用默认时序工作稳定。
但超频后,系统时钟频率升高,内存可能无法按时完成各操作。
为兼容超频带来的系统时钟变化,我们需要调整内存时序:
降低CL、tRCD、tRP等主要时序参数值,给内存留出更多周期操作。
例如,3000MHz内存的16-18-18,超频到4000MHz后调整为14-16-16。
同时,需要适当提升DRAM工作电压VDD/VDDQ,加速其响应:
太低电压会因响应慢出现错误;过高电压同样不利。
时序调整与电压 设置是互相配合,才能让内存稳定工作在高频下。
其他细节需要注意
时序调太低存在安全隐患,务必检查稳定性。
某些芯片组对时序参数有限制,不要调出规格。
更高时钟需要更高等级的内存方可运行无误。
调节前最好备份数据,避免因试错导致系统损坏。
内存热度也会影响频率极限,需要有效冷却管理。
总之,内存超频需要掌握时序原理,并考虑各种影响因素,方能运行稳定。
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